正确选择 X 射线光学元件可以显著提高 XRD 数据质量，使定量和定性物相分析更容易，并避免忽视衍射图中的重要细节。

X 射线衍射 (XRD) 是对多晶样品（如粉末或块体材料）进行定量和定性分析的标准方法。很难识别材料中包含的所有物相，并量化每个物相的正确相对含量。这在多相体系中尤其如此，其中某些物相只占整个体系的百分之几。高数据质量、高分辨率和低背景噪音在这方面有很大帮助。Anton Paar 全自动多功能粉末 X 射线衍射仪 XRDynamic 500 是此类测量的完美选择，因为其专利的TruBeam^TM 概念将无与伦比的数据质量和测量效率相结合。