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产品简介
飞行时间法（TOF）测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键，T3000飞行时间测量系统基于
脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.
- 有机半导体中的载流子输运
- 电子/空穴迁移率的测量
- 飞行时间法测量(TOF)
- Dark Injection Transient (DIT)
- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)
- 低温测量
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