分散方式：
测量时间：
测量范围：
10-4探测器：
加速电压：
电子枪：
电子光学放大：
光学放大：
通道数：
误差率：
波长准确度：
灵敏度：
分辨率：
3%重现性：
仪器原理：
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FT-391系列手持式四探针方阻测试仪详情介绍
FT-391 Series handheld four-probe resistance tester
概述Overview：
参照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集高精密集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外型结构，可充电式电源系统，超长待机，上下限设定.
功能介绍Function introduction：
便携式外型结构更加适用于车间生产、品管抽检，外出携带测量等要求快速便捷测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.
FT-391系列手持式四探针方阻测试仪
技术参数Technical Parameters：
规格型号Specification model
FT-391A
FT-391B
FT-391C
1.方块电阻范围sheet resistance
10～2.00×102Ω/□
10～2.00×103Ω/□
10～2.00×104Ω/□
2.电阻率范围resistivity
1～2×103Ω-cm
1～2×104Ω-cm
1～2×105Ω-cm
3.分辨率resolution
0.01Ω
0.01Ω
0.01Ω
4.显示读数display
液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness.
5.测试方式test mode
单电测量single electrical measurement
6.工作电源working power
5V.1000mA
7. 误差errors
整机不确定性Machine uncertain≤4.5%（标准样片结果standard samples）
8.选配choose to buy
选配1.方形探头； 选配2.直线形探头；探针间距；选配3：探针间距1mm；2mm；3mm三种规格; 选配4：探针材质：碳化钨针;镀金磷铜半球形针square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical needles.
FT-391系列手持式四探针方阻测试仪
适用范围Widely used：
1.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，
3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，
4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，
详情描述：
1. 自动量程
2. 高准确稳定性.
3. 双电组合测试方法
4. 标准电阻校准仪器
5. PC软件运行
6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.
7. 可显示5位数字.
8. 中、英文界面
覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
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