NanoEye

每一纳米均纳入计算

量程与分辨率的新的标杆

对于传统的热膨胀仪，测试量程与分辨率这两个参数很难两全：高分辨率只能在很小的量程中实现；如果要得到较大量程，只能牺牲一定的分辨率。

新型自反馈光电位移测量系统 NanoEye 克服了这一技术上的矛盾，能够同时提供高分辨率、线性度与无以匹敌的宽广量程。

使用寿命长

DIL 402 Expedis Classic 既可配备为单样品系统，也可配备为双样品/差示系统。两个版本的主机均已集成了测量热膨胀所需的所有硬件。既没有多余的外部电缆，也不需要额外的冷却水浴。

Expedis Classic 操作简单，免维护，使用寿命长，工作负担低，保证了使用者生产的顺畅性。该系统的独特的设计使得样品支架的更换十分简单，避免了损坏支架的风险。

优越的气密性和隔热设计是保证在预设气氛下得到结果的先决条件。气密性设计和集成的气体流量装置能够确保纯净的测量气氛。气体直接穿过测量单元和样品室。样品室的良好的隔热性则避免了由环境造成的温度波动。

操作简单

对于新款 DIL 402 的样品测试，使用预设定的测试程序能够简化操作者的测试准备过程。

仪器的 MultiTouch 功能能够利用独特的尾式顶样操作获得装样效果。在预设定的接触力下，可对样品的初始长度进行自动测量。炉体的闭合具有缓冲效果，从而保证了样品位置的稳定。

DIL 402 Expedis 的热电偶位置可以灵活调整，以适应不同的样品长度。通过导向杆，可将热电偶调整至与样品长短相匹配的合适的位置，无需弯曲热电偶。

炉体的更换也十分的简单，无需专门的经验。只需几次点击操作，便能开始测试。

接触力控制

接触力控制使得操作者能够测试小样品、精细、脆性样品或是泡沫样品，而保证样品不受破坏，或发生不可重复的形变，以及在整个测试过程中保持接触压力的一致性。

这一特性使得即使是不同的操作者也能够保证所测样品长度的良好重复性。滑动、滚动摩擦，以及粘滞效应在这个测量系统中都能够被避免。