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PHL双折射应力仪WPA-Micro
PHL双折射应力仪WPA-Micro

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日本

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北京欧屹科技有限公司

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应力双折射仪

WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪

应力双折射仪器简介:

应力双折射仪,能够快速测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

日本Photonic-lattice成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术世界,并由此开发出的测量仪器。

PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO

匹配显微镜测量双折射

测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体

薄膜、金属晶体、不透明基板等材料

在显微镜视场下评估和管理双折射分布

PHL应力双折射仪器参数:

型号

WPA-Micro

测量范围

0-4000nm

重复性

<1.0nm

像素数

384x288

测量波长

523nm,543nm,575nm

尺寸

250x487x690.0mm

观测到的面积

5倍物镜:1.1x0.8mm;10倍物镜:0.5x0.4mm;20倍物镜:270x200um;50倍物镜:110x80um;100倍物镜:55x40um.

自身重量

11kg

数据接口

GigE(摄像机信号) RS232C(电机控制)

电压电流

AC100-240V(50/60Hz)

软件

WPA-View(for Micro)

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产品质量

10分

售后服务

10分

易用性

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