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显微“变角度”光谱系统

*小 0.5° 角分辨 / 透反射 + 荧光 / 低温 + 磁场 + 1.7 μm 近红外

ARM 角分辨光谱仪 采用焦平面 Fourier Transform **技术，基于显微平台，将角分辨光谱的“空间分辨率”提升至 μm 量级，**次实现了角度 (k) + 空间 (x) + 光谱 (ω) 的三重分辨。优化的集成设计，快速在透射 / 反射 / 辐射 (荧光) 等 9 种光谱模式间切换。*终为您带来一款“更全面”的光谱测试平台。

微区角分辨光谱系统

典型应用领域：

Nano Photonics 随着以光子晶体、SPP 材料、超材料为代表的微纳光子材料的开发和应用，单纯光谱分析技术已无法满足完备表征该类光子材料光学性质的需求，更精细化的角分辨光谱技术应运而生。

微腔光子器件微腔光子器件受构型影响，光学性质具有角分布特征，需在不同角度下实现光谱探测。

超表面透镜利用超表面技术（meta-surface）设计的超表面透镜具有强大的光场调控能力，能够实现亚波长的汇聚和微米级的聚焦，需要一种新型的基于显微平台的角分辨光谱探测手段。

ARM 角分辨光谱仪在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 超过 60° 的角度 ARM 优选 Olympus 大 N.A. 平场复消色差物镜，收集超过 60° 的角向辐射光谱；匹配智能算法，快速实现包括透射 / 反射 / 辐射 (荧光) 等 9 种光谱测量模式； 2 达 5 个维度的空间选择 ARM 内置一个**设计的可调 Aperture，可以实现 X / Y 方向开口距离调节，XY 两维平面位置平移，及平面内 θ 方向旋转，准确抓取复杂形貌的微区样品； 3 *小 0.5° 角分辨率 ARM 采用特殊优化的消色差、消相差光路，能够将角度分辨率提升至 0.5°，显著提升光谱分析能力； 4 1.7μm 近红外拓展 NEW 新一代**设计的 ARM 重新对角分辨光路系统进行构型，** 在近红外波段 900~1700nm 实现角分辨光谱测量，对推动光通讯、超表面、激光雷达等领域研究具有重要价值； 5 低温 + 磁场拓展新一代 ARM 也拓展了对低温和磁场环境的支持，可适配*低 2.7K 低温恒温器和** 5T 磁场强度超导磁体； 6 除此之外，ARM 还可与外部光源及 Princeton Instruments 光谱仪衔接，实现包括时间分辨、空间相干性、瞬态光谱采集等功能。

技术起源：角分辨光谱技术（Angle-resolved Spectroscopy， ARS），诞生于复旦大学，是一种精细化的光谱技术。基于该技术而生的角分辨光谱仪具有在不同角度下探测材料光谱性质的能力，突破传统光谱技术不能分辨角度的局限，是获取光子材料色散关系，实现光学性质“全面表征”的重要且**手段，在微纳光子学、低维材料、发光材料等领域具有重要应用价值。

部分SCI标注文献

注：以上参数如有差异，以官网为准

创新点

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