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QT-3102-XX测试器件类型：三极管、场效应管、IGBT、二极管、可选SCR。
R26; 可以内置到QT-4100的DC测试项内实现大功率内置热阻测试。
R26; 通过scanbox可以实现Dual Die测试。
| 项目 | 范围 | 阶跃电流 | 精度 |
| 偏置电流IE/IDS | 0.01 to 20A/50A | 0.01A | ±1%+2mA |
| 测量电流IM | 1 to 100mA | 1 mA | 1 to 39 mA ±1% + 0.2 mA 40 to 100 mA ±3% |
| 门限电压Gate-L | 1.0 to 20.0V(±5V的固定值初始值) | 0.1V | ±0.5V |
| 功耗时间PT | 在偏置功率范围300 us to 200ms | 1 us | 晶体 |
| 延时DT | 10 to 999 us | 1 us | ±1 us 晶体 |
| 上限/下限 | 0 to 9999 mV | 1 mV | / |
| 0 to 999.9 mV | 0.1mV | / | |
| VCB/VDS | 1 to 100V / 200V | 1 V | ±0.2% + 0.1V |
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