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-重量(kg):
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该设备是我司全新研发的一套AMB陶瓷基板缺陷终端检测的自动化系统,包括上料机、AOI检测机、下料机及工作站,可极大提高产品检出率,从而为企业提高生产效率和节约生产成本,实现一站式自动化作业;上料机可批量放入待测产品料框、产品进料完毕后空料框自动流入下料机自动收料;AOI检测机采用两工位对来料产品扫描上下表面图像、并检测出多种缺陷大小及标记位置坐标、自动判定良品与坏品及分拣流入下料机;下料机分良品与坏品通道、自动收取检测过的产品,料框收满后自动流入工作站;工作站可查看产品检测数据、显示其缺陷图信息、为方便用户分析产品检测情况及复检。
1、软件有用户管理功能,可添加、修改及删除登录帐号;
2、软件有设备运行状态记录功能,设备运行异常问题记录功能;
3、检测后可显示缺陷类别、缺陷大小及所在位置坐标,可以进行缺陷抠图及完整图片保存;
4、对产品信息、批次信息、数量、良率可以进行统计,可以保存数据及查询并可以导出到Excel;
5、可进行参数设置,可设置缺陷标记颜色,光源及相机等硬件参数;
6、可依据不同产品的各自外观判定标准和尺寸图纸,设置相应测试模板,并且测试模板可以保存和调取适用;
7、复检工作站。
AMB陶瓷基板外观瑕疵检测。
序号 | 项 目 | 参 数 |
1 | 设备型号 | DE-AMB003 |
2 | 尺寸 | 2220mm(长)×1900mm(宽)×2000mm(高)(高度不含FFU) |
3 | 检测效率 | ≥350pcs/H |
4 | 检验对象厚度 | 0.5mm-1.2mm |
5 | 检验对象 | AMB工艺陶瓷覆铜板,覆铜板状态为切割后,裂片前,产品上有切割道 |
6 | 漏检率 | 各种不良平均漏检率≤2% |
7 | 误检率 | 各种不良平均误检率≤2% |
8 | 不良标记 | 对不良小颗样品可进行激光打标方式标记,用户可标记缺陷类型及统计各类缺陷数量 |
9 | 可检测缺陷范围 | 刻蚀不净、镀层不良,阻焊不良,色差,划伤,氧化,凹陷等 |
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