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FLEX是CRAIC中兼具全能性和灵活性配置的仪器,它用光复用器Lightswitch把紫外-可见-近红外光学器件,分光光度计数字成像及软件都结合到一起。通过Lightswitch技术,FLEX保留了大家熟知的CRAIC的易用性,同时能够进行紫外-可见-近红外光谱测量,高分辨显微成像,折射率测量等。
以一个有吸引力的价格为切入点,FLEX分光光度计利用测试技术来测量紫外-可见-近红外范围的透射,吸收,反射,辐射和荧光微区光谱。在获取显微光谱的同时,样品可通过高分辨彩色数字成像系统或目镜进行成像。附加功能还包括显微样品的折射率及色度测量,及微区的薄膜厚度测量。
此外,FLEX分光光度计在获得**成像质量和光谱的同时,提供了**吸引力的价格。
• 紫外-可见-近红外透射显微光谱
• 紫外-可见-近红外透射高分辨成像
• 透射,反射,偏振及荧光显微分光光度计
• 透射,反射,偏振及荧光显微成像
• 拉曼分光光度计
• 薄膜厚度测量
• 显微样品色度测量
• 结合rIQ进行折射率测量
• 配备Lightblades技术
• 集成TE制冷CCD阵列探测器以提供超低噪声和长期稳定性
• 样品温度的精确控制
• 对样品上小于一微米区域的校准和变量测量
• 同时使用目镜和数字成像的**成像功能
• 搭配Lambdafire光谱,成像控制及分析软件。
• 专业的软件模块,包括统计分析,光谱数据库,成像分析等
• 易于使用和维护
• 来源于显微光谱领域专家
紫外-可见-近红外显微光谱
高性价比显微分光光度计
该仪器是一个完全集成的显微光谱单元,光谱范围包括从紫外到可见到近红外。可同时对采样孔径和样品直接成像从而进行快速精确的测量。20/30 PV搭载Lightblades技术,即便尺寸在亚微米样品的透射,反射,偏振,荧光光谱FLEX也能测量。CRAIC Technologies也是美国国家标准技术研究所(NIST)可追溯分光光度计标准**认可的来源。
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