首页 > 分析仪器设备 > 测量/计量仪器 >
F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备
F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备

参考价格

面议

型号

F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备

品牌

昂坤视觉

产地

北京

样本

暂无
昂坤视觉(北京)科技有限公司

高级会员

|

第1年

|

生产商

工商已核实

留言询价
核心参数
同类推荐

看了F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备的用户又看了

产品介绍
创新点
相关方案
相关资料
用户评论
公司动态
问商家
留言询价
×

*留言类型

*留言内容

*联系人

*单位名称

*电子邮箱

*手机号

提交
点击提交代表您同意 《用户服务协议》《隐私协议》

虚拟号将在 180 秒后失效

使用微信扫码拨号

为了保证隐私安全,平台已启用虚拟电话,请放心拨打(暂不支持短信)
×
是否已沟通完成
您还可以选择留下联系电话,等待商家与您联系

需求描述

单位名称

联系人

联系电话

Email

已与商家取得联系
同意发送给商家
产品介绍
创新点
相关方案
相关资料
用户评论
公司动态
问商家

晶圆缺陷检测设备具有明场DIC、暗场和先进的AI技术。F2000可检测裸片和外延片表面的颗粒和划痕等缺陷。其性能与KLA SP1相当。该工具应用于HVM晶圆制造和IC Fab中各种前端工艺节点的检测,以提高芯片生产的良率。

设备描述 Features 

晶圆搬运

EFEM: 6” / 8” SMIF or 12” FOUP

晶圆类型

不透明晶圆,如裸硅片、氧化物、氮化物等

晶圆翘曲

不大于100um

晶圆厚度

350um~1.5mm(在晶圆底部打开并夹持)

照明系统

斜入射暗场,微分干涉明场

非图形化晶圆颗粒检测灵敏度

51nm

检测缺陷分类

Particle, scratch, pit, bump, Haze map

工艺节点

90,130nm


创新点

暂无数据!

相关方案
暂无相关方案。
相关资料
暂无数据。
用户评论

产品质量

10分

售后服务

10分

易用性

10分

性价比

10分
评论内容
暂无评论!
公司动态
暂无数据!
技术文章
暂无数据!
问商家
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备的工作原理介绍?
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备的使用方法?
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备多少钱一台?
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备使用的注意事项
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备的说明书有吗?
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备的操作规程有吗?
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备的报价含票含运费吗?
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备有现货吗?
  • F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备包安装吗?
F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备信息由昂坤视觉(北京)科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
  • 推荐分类
  • 同类产品
  • 该厂商产品
  • 相关厂商
  • 推荐品牌
免费
咨询
手机站
二维码