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碳酸钙 比表面积测定仪
碳酸钙 比表面积测定仪

参考价格

面议

型号

JW-DX

品牌

精微高博

产地

北京

样本

暂无
北京精微高博比表面测试仪

会员

|

第16年

|

生产商

工商已核实

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核心参数
  • 误差率:

  • 分辨率:

  • 重现性:

  • 仪器原理:

    动态色谱法
  • 分散方式:

  • 测量时间:

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操作便利,人性化设计

比表面仪器全自动控制及操作;
测试界面上动态显示每个样品的吸附或脱附过程,吸附峰或脱附峰实时显示,每个样品的峰面积及吸附量实时计算;对比法测试时,每个样品的比表面结果实时显示 测试数据自动保存为源文件,支持不联机离线分析,可拷贝;
动态真空加热脱气机配置微型真空泵及加热炉,炉体温度≦400°C±1°C,样品加热脱气后转移到比表面仪主机上即可进行测试

JW-D系列

比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司***仪器JW-DX型动态吸附比表面测定仪,测试准确、高效,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。

典型分析实例

1.小比表面样品测试
-石墨负极材料


型号

JW-DX
测试原理低温氮吸附,流动色谱法
方法特色***技术。
采用吸附峰,与静态容量法相同,四个样品独立测试,无干扰,信号峰尖锐,<10m2/g小比表面样品测试精度明显提高
测试功能对比法比表面积测试;
单点、多点BET比表面积测试
测试气体高纯氮气(99.999%)+高纯氦气(99.999%)
氮分压P/P0范围0.05-0.35 (多点BET)
测试范围比表面积0.01m2/g至无已知上限,
不适用于微孔材料检测
重复精度炭黑标准样品≤± 1.0%;
与静态容量法测试精度高度一致
分析站4个
测试效率对比法测试每个样品约需5min;
多点BET测试每个样品约需25min
电源要求交流220V±20V,50/60HZ,**功率300W,电流5A ;
推荐应用领域石墨、三元材料、磷酸铁锂、锰酸锂、钴酸锂等等电池正负极材料;
医药辅料;
金属粉末;
金属氧化物粉末;
稀土发光材料;
纳米碳酸钙;
等等





分析站

4个,每个样品独立进行吸附过程,实现了多样品的无干扰、无差异测试,完全保证每个分析站测试结果的平行性,重复性误差≤± 1.0%


真空加热脱气

选配。外置式4站真空脱气机,可同时进行4个样品的脱气预处理,配合比表面仪主机同时使用,可大大提高测试效率。**脱气温度400℃;(**号第2516757号)


防样品飞溅技术

自主研发,设计内置式防飞溅单元,可有效防止粉体样品随流动气体流入仪器内部管路,可有效避免仪器受到污染


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比表面仪器全自动控制及操作;
测试界面上动态显示每个样品的吸附或脱附过程,吸附峰或脱附峰实时显示,每个样品的峰面积及吸附量实时计算;对比法测试时,每个样品的比表面结果实时显示 测试数据自动保存为源文件,支持不联机离线分析,可拷贝;
动态真空加热脱气机配置微型真空泵及加热炉,炉体温度≦400°C±1°C,样品加热脱气后转移到比表面仪主机上即可进行测试


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