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比表面测定仪
比表面测定仪

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型号

JW-BK

品牌

精微高博

产地

北京

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北京精微高博比表面测试仪

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分析方法 
比表面测定:BET(单点、多点)比表面,Langmuir比表面,外表面测定;
BJH孔径分布测定:总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布;
微孔常规分析:微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等)
真密度测试
技术参数
测试方法:低温真空氮吸附容量法,静态容量法
测试气体:高纯氮气,也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
极限真空:4×10-2Pa ( 3×10-4   Torr)
分压范围:4×10-6 – 0.995
控制精度:测试压力点*小控制间隔可小于0.1 KPa (0.75  Torr) ,可测上千个点。
测量范围:0.01 (M2/g)―无规定上限(比表面),0.35 - 500 nm(孔径)
测试精度:重复性误差±1%
压力测量:采用压力分段测量,进口压力传感器显著提高P/P0点下测试精度,0-1000 torr(0-133kpa)
样品数量:同时进行1个样品分析和2个样品脱气处理
液位控制:确保液氮面与样品管位置保持一致,彻底消除因死体积变化导致的误差,连续10h不加液氮
测试效率:多点BET比表面每样平均20min
预 处 理:两样品同位处理,温度50-400℃,±1℃
数据采集:高精度双向数字采集模块,*强的灵活性完成*全面的数据采集,误差小,抗干扰能力强
数据处理:标准的windows窗口界面,易理解、学习、操作,丰富的比表面和孔分析模型,图像分辨率高,易于维护,兼顾到系统后期扩展
质量认证:CE认证、中国计量研究院认证、中国科技部检测报告、国家新产品证书、GB/T 19001-2008质量管理体系认证证书

仪器特点
1、国产比表面积及孔径分析仪**通过***技术鉴定产品,附产品鉴定证书
2、德国氦质谱检漏仪检测真空系统,确保每台仪器**的高真空
3、自主知识产权的抽气与充气速度精密控制装置,保证测试点高达1000多点;
4、多途径液氮面控制校正技术,确保样品在冷阱中的深度及环境一致,消除因死体积变化导致的误差
5、具有独立,不易损坏的不锈钢杜瓦瓶,安全可靠,保温效果**
6、无需氦气降低测试成本(一瓶氦气2000元)   
7、完善的标准等温线数据库和规范的分析方法,BJH、t-Plot、MP、D-R微孔常规测试技术国内**
8、可编程控制电路,高精度双向数字采集模块,测试全程自动化、智能化,长时间运行可以无人职守
9可将分析结果实现叠加对比分析
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