2011年7月19日-7月25日，麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会分别在中山大学、武汉理工大学、南京大学、浙江大学隆重召开。此次系列研讨会吸引众多学校以及研究所教授约200位专家学者参与了此次大会.

 

 
     研讨会主题为物理吸附与化学吸附的理论与实践，麦克仪器资深专家Jeff Kenvin博士与Jacek Jagiello博士，报告了物理吸附与化学吸附基本理论，并与实践经验相结合，引起与会专家学者和业内同仁们热烈的反响和讨论。

 

        此次研讨会为颗粒表征与技术工作者提供了一次宝贵的学习、交流平台，取得了良好的效果，与会代表纷纷表示这次研讨会对他们的工作帮助很大，希望以后能够继续参加类似的活动。