JW-BK基础型

比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK基础型系列全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，根据测试功能不同可区分为JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三种型号，其中，JW-BK122W型因配置有小量程10torr压力传感器，配合二级吸附泵技术，可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔径分布需求。 低温条件下（液氮或液氩等），在密闭的真空系统中，改变吸附质气体压力，通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值，进而计算出气体吸附量，描绘出等温吸脱附曲线，应用各种物理分析模型进行比表面积及孔隙度分析

产品特点

测试原理

低温条件下（液氮或液氩等），在密闭的真空系统中，改变吸附质气体压力，通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值，进而计算出气体吸附量，描绘出等温吸脱附曲线，应用各种物理分析模型进行比表面积及孔隙度分析。

二级吸附泵技术

122W型采用二级吸附泵技术，可显著提高测试系统真空度1-2个数量级，为微孔分析提供有利条件，微孔直径测试*小0.7nm；

冷自由空间

He自动校正，适合任何粉体、颗粒材料

真空脱气

集同位、异位真空脱气于一体的标准化设计，样品分析的同时，可以进行另外2个样品不同温度及时间的异位脱气处理；分析站可同时进行2个样品不同温度及时间的同位脱气处理材料

测试模块

核心设计，死体积空间Vd小，内部温度Td实时检测及控制，保证了吸附量测定的科学性和准确性；

微孔分布

HK、SF微孔分析模型应用准确，微孔孔径偏差小于0.02 nm，通过中国计量院认证

操作便利，人性化设计

以太网数据采集，向导式操作软件，一台计算机可同时控制多台仪器，可远程控制；

DIH选择性吸附模型

压力传感器

核心部件，高精度电容式薄膜压力传感器，C型配置1torr(可选择0.1torr)使得物理吸附分析中的气体分压P/P0可达10-7-10-8（N2/77K）

液氮面控制

采用3L大容量真空玻璃内胆杜瓦瓶、高效封盖、小内截面、软件修正等综合控制技术，使测试过程中样品管内非均匀温度场保持相对恒定（等温）

防抽飞

自控可调式多通道并联真空系统，抽真空速度得到精细的"阶梯式"自动控制，防样品抽飞；同时设计内置式防抽飞单元，将超细微粉可能被抽飞的可能性降至*低，可有效避免仪器受到污染

NLDFT

非定域密度函数理论孔径分析软件，与北京化工大学、苏州大学深入合作开发，填补了**，与国际接轨，涵盖碳材料、分子筛等各类微孔材料测试界面上动态显示每个吸附平衡过程，可清晰了解样品的吸附特征，监控实验过程，帮助分析异常现象，还通过事件栏和指示灯显示仪器内部动作进程，是独特的很有使用价值的人性化设计；

通过测试界面可直观清晰观察到歧管内部空间压力及温度变化，便于仪器维护，也便于简易测试当前大气压需要；

测试数据自动保存为源文件，支持不联机、多文档同时分析，可拷贝，BET、Langmuir、BJH、t-plots等等十几种物理吸附分析模型供选择使用；

预处理包含随机独立式、同位处理式两种，可按需选择使用，微型可移动加热炉，≦400°C±1°C，可实行10段程序控制。 设计；