北京精微高博比表面测试仪
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产品详情
JW-DX 比表面积测定仪
JW-DX 比表面积测定仪的图片
参考报价:
面议
品牌:
精微高博
关注度:
5664
样本:
暂无
型号:
JW-DX
产地:
北京
信息完整度:
典型用户:
暂无
仪器原理:
静态容量法
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认证信息
高级会员 第 16
名 称:北京精微高博比表面测试仪
认 证:工商信息已核实
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产品简介


产品特点

***

***DX型仪器,不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定;(**号20140320453.2)

可升级性强

DX型仪器标准配置对比法比表面测试功能,可升级为多点BET比表面测试型仪器;
动态外置式4站真空加热脱气机,属选配设备,建议用户选配,亦可在今后随时添加

典型分析实例

1.小比表面样品测试
-石墨负极材料

小比表面1

小比表面2

分析站

4个,每个样品独立进行吸附过程,实现了多样品的无干扰、无差异测试,完全保证每个分析站测试结果的平行性,重复性误差≤± 1.0%

真空加热脱气

选配。外置式4站真空脱气机,可同时进行4个样品的脱气预处理,配合比表面仪主机同时使用,可大大提高测试效率。**脱气温度400℃;(**号第2516757号)

JW-TQD-4

杜瓦瓶

1L容量真空玻璃内胆杜瓦瓶,保温效果远远优越于金属内胆液氮杯;(**号第2509179号)


防样品飞溅技术

自主研发,设计内置式防飞溅单元,可有效防止粉体样品随流动气体流入仪器内部管路,可有效避免仪器受到污染

DX软件

典型分析实例

2.多点BET比表面测试;

DX多点1

DX多点2



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