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产品分类
产品简介
参考报价:
面议 | 型号: | AFM5500M | |
品牌: | 日立 | 产地: | 日本 |
样本: | 【暂无】 | 信息完整度: | |
典型用户: | 0 |
仪器种类: | 原子力显微镜 | 样品台移动范围: | 100mm*100mm |
样品尺寸: | 直径≤100mm,厚度≤20mm | 定位检测噪声: | ≤ 0.04 nm (High-resolution mode) |
价格区间: | 产地类别: | 进口仪器 |
1. 自动化功能
高度集成自动化功能追求高效率检测
降低检测中的人为操作误差
2. 可靠性
排除机械原因造成的误差
大范围水平扫描
采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
AFM5500M搭载了**研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。
高精角度测量
普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。
3. 融合性
亲密融合其他检测分析方式
通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。
通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。
石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。
SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。
与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。
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