飞纳扫描电镜以卓越的微观检测能力被大家熟知，简单的操作、方便的测样、快速的成像以及友好的界面为飞纳带来了不少粉丝。其实，飞纳电镜除了强大的微观检测能力之外，它也有许多实用的可拓展功能。飞纳电镜的这些“三头六臂”让客户在进行微观分析时如虎添翼，今天就来谈一谈其中被很多人关注的 颗粒统计分析测量系统。

在检测粉末样品时，除了形貌观察，我们有时还有统计其粒径、圆度等的需求。如果我们依靠人工手动测量统计，会耗费很大的人力和时间。此时，如果有一款软件能基于微观形貌自动统计颗粒的具体信息，就会方便很多。

客户有需求，飞纳有方案 —— 颗粒统计分析测量系统应运而生。

原理

扫描电镜只能进行“黑白”成像，而颗粒与周围背景 “亮度” 不一致，根据这一差异，系统会自动识别到颗粒。

检测方式

可以根据客户不同检测需求进行统计，比如融合颗粒的识别设置（图1）、覆盖颗粒是否统计（图2）、不完整颗粒是否统计（图3）、最小识别颗粒尺寸（图4）等等。

图1

图2

图3

图4

统计结果

颗粒统计分析测量系统会把识别到的颗粒一一列出来，操作员可以根据需求可以删除不满意颗粒。其次，系统会把每一个颗粒的具体信息统计出来，比如面积、等效圆直径、长轴长度、短轴长度等，全面地了解样品。

当获得了满意的统计结果之后，还可以根据需要生成散点图、折线图等统计图表（横纵坐标自主确定），并自动生成统计报告，颗粒统计结果一目了然。