源顺国际有限公司
首页 > 产品中心 > 测量/计量仪器 > 原子散乱表面分析仪器
产品详情
原子散乱表面分析仪器
原子散乱表面分析仪器的图片
参考报价:
面议
品牌:
关注度:
1114
样本:
暂无
型号:
产地:
日本
信息完整度:
典型用户:
暂无
索取资料及报价
认证信息
高级会员 第 2
名 称:源顺国际有限公司
认 证:工商信息已核实
访问量:13780
手机网站
扫一扫,手机访问更轻松
产品分类
公司品牌
品牌传达企业理念
产品简介

Pascal(TOFLAS)

原子散乱表面分析仪器

尖端技术 : 表面分析 & 元素分析

绝缘材料结晶表面分析

极性表面的极图分析

*表面数层非常灵敏,浮动状态的电力类样品也可以分析

表面结构可视觉直观评估

完全不受电场和磁场影响in-situ 分析

单一原子层或结晶尺度的成长监测

薄膜, 超薄膜, 单层薄膜, 石墨烯 …等绝缘, 半导体 & 金属

  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
我要咨询关闭
  • 类型:*     
  • 姓名:* 
  • 电话:* 
  • 单位:* 
  • Email: 
  •   留言内容:*
  • 让更多商家关注 发送留言