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纳米检测显微镜LEXT OLS4500
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日本
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产品简介

LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能为一体的革新机,从而可以实现对观测对象从几十倍到百万倍的连续放大可以满足不同样品的超高分辨率三维观察,以及尺寸测量、微粗糙度测量等各种观测需求。

通过在多种显微镜和观察模式间自由切换,LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的超大范围观察和测量,这使得观察对象的定位变得精准快捷,在大大缩短了获取影像时间的同时保护了探针,并且不用担心观测目标的丢失。另外,这种一体的革新设计可以实现对同一对象的多手段原位观测,从而提高了对观测结果分析解释的准确性和可信度!

l光学显微镜:

装有倍率不同的四种物镜,集合了明视野观察(BF)、微分干涉观察(DIC)、简易偏振光观察及HDR(高动态范围)观察等多种功能。

l激光显微镜:

采用短波长405nm的激光光源和高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统,实现了优异的平面分辨率。在激光微分干涉模式中还可以实现观察纳米级的微小凹凸。

l扫描探针显微镜:

专业的针尖对齐夹具避免了在仪器上调节激光光斑位置的繁琐;

搭载导航功能,可以在已扫图像中任意制定特定区域进一步扫描观测;

多种观察模式满足对样品表面形貌和物性的观察分析。

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