仪器简介

TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。

HORIZON 配备了12位样品台自动测量，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。

主要特点

■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；

■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；

■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；

■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；

■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；

■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；

■ 出色的动态线性范围；

■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；

■ 非破坏性分析，运行成本低廉。