系统配置：

■赛默飞 IRIS Intrepid II XSP 电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES

这台仪器状况良好，已经在SpectraLab Scientific进行了测试。

所有套件和组件均包含90天保修。

仪器实物图：

仪器简介：

一、用途及功能

　　用途：广泛应用于环境、冶金、地质、农林、石化、矿物、材料、食品、卫生和医药等领域。

　　基本功能：可同时测定73种金属及部分非金属元素测定，可进行定性及定量分析。

二、主要技术参数及特点

主要技术指标：

　　1. 焦距：381 mm

　　2. 波长范围：165~1050 nm， (可测量Br， Cl， I元素)

　　3. 分辨率：0.005nm在200 nm处

　　4. 杂散光： < 0.3 ppm，10000 ppmCa 在As193.696 nm处

　　5. 全波长自动校正

　　6. 晶体控制频率：27.12 MHz

　　7. 频率稳定性：0.004%

　　8. 输出功率: 750~1500 W连续可调

　　9. 功率稳定性：0.01%

　　10. ICP 观测方式：垂直炬

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