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全自动Χ光沉降粒度分析仪SediGraphⅢPlus
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SediGraph®Ⅲ Plus

全自动X光沉降粒度分析仪

SediGraph全自动Χ光沉降粒度分析仪使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降,即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下,报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。

久经考验的技术和可靠性

在过去的三十多年中,麦克仪器公司的SediGraph沉降粒度分析仪是全世界许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室,SediGraph凭借其**的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法,颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律,通过测量粒子在液体中的沉降速率,得出粒子粒径大小,粒径分析范围为0.1-300μm。

智能设计特色

SediGraph III Plus沉降粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易,日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品,在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性极高的结果。

  • 简化泵系统,确保快速分析和易于维护

  • 降低噪声,提供更加安静的工作环境

  • 维护提醒装置,根据总测试量,提示用户进行定期维护

  • 电脑控制混合室温度,提高测试可重复性

  • Windows操作软件,以太网连接,可进行点击式选择菜单,联网工作,打印机选择,剪切和粘贴等操作

  • 多功能和交互式报告系统,能够提供多种类型的报告,例如颗粒沉降速度和粒度(以Phi为单位)

多项功能

  • 完整的颗粒分析,能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析,包括粒径大于 300μm和小于0.1μm的部分

  • 能够与其他粒径测得的数据相结合,使数据报告范围可扩展至125,000μm (125mm),在地质学方面具有很好的应用

  • 自下而上地扫描沉降室,能够准确的获取沉降颗粒的总数,同时*小化颗粒分离所需的时间

  • 全自动操作模式能够增加分析样品总数,并且能够减少人为操作步骤,以降低由人为操作造成的测量误差

  • 控温分析可确保在整个分析过程中液体的性质不发生任何变化,以获取精确的分析结果

  • 多种分析速度,可根据实际需要选择所需的速度和分辨率

  • 实时显示,能够监控当前分析的累积质量图,以便根据需求立即修正分析程序

  • 统计过程控制(SPC)报告能够跟踪过程性能,便于立即对变化做出响应

  • 多图叠加功能,能够对分析结果进行可视化比较,例如:与参考样品或基线叠加,或者将同一分析数据的两种不同类型结果图叠加

  • 数据比较图,能够提供两套数据组(不同于参考图)图形显示的数学差或某个数据点高于/低于误差范围的程度(指定图以外)

  • 能够使用同一台计算机同时控制两台SediGraph,节约宝贵的实验室空间,方便数据存储

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