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产品简介
在逐年开发小型化电子设备时、『热问题的解决』成为一个非常重要的课题。
正确掌握零件及材料的热物性,现在是必不可少的。
本设备『热波分析仪TA35/33/32/31』
◎用于新材料开发的功能确认◎用于产品开发阶段的热设计◎用于制造现场的品质管理◎用于检查缺陷,不均匀性等需要掌握一些热物性时,会广泛的运用在各式各样的工作中。
例如:
电子零件的散热材料的评估、半导体激光的电极评估、热点发电材料的评估、硬质合金工具的镀膜评价
测量实际多种多样:
碳素纤维强化树脂(CFROP),纳米纤维素,纤维素,石墨,碳纳米管,硅胶散热片,多结晶金刚石,陶瓷,高热传导性树脂,一般树脂,玻璃,各种金属,半导体材料,碳素材料,其他
测量对象:固体材料(热扩散率)
测量范围:0.1~1000[x10-6m2s-1]
量测尺寸:**100x100x2mm
量测尺寸:*小10x10x0.015mm
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