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PILATUS、EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器DECTRIS
1、产品特点：
在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，EIGER2 R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的***技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射*小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。
2、核心优势：
– 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景
– 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围
– 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率
– 可定制在真空环境下使用；
– 免维护
3、应用领域：
- 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）；
- 大分子晶体学（MX）；
- 化学结晶学；
- 单晶衍射（SCD）；
- 粉末衍射（PD）；
- X射线成像；
- 表面衍射；
- 漫散射。
4、技术参数：
EIGER2 R | 500K | 1M | 4M |
探测器模块数量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.2 x 38.6 | 77.2 x 79.9 | 155.2 X 162.5 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||
点扩散函数 | 1 pixel | ||
能量阈值 | 2 | ||
阈值范围（KeV） | 4-11 | 3.5-30 | 3.5-30 |
**计数率（cps/mm2） | 3.6×108 | ||
计数器深度（bit/threshold） | 2×16 | ||
采集模式 | 同时读/写，死区时间为零 | ||
图像位深度（bit） | 32 | ||
可选真空兼容 | Yes | ||
冷却方式 | 风冷 | 水冷 | 水冷 |
尺寸（WHD）[mm3] | 100 x 140 x 93 | 114 x 133 x 240 | 235 x 235 x 372 |
重量 [kg] | 1.8 | 3.9 | 15 |
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