DECTRIS混合像素光子计数探测器EIGER X_报价-北京泰坤工业设备有限公司

新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步应用提供**的探测性能。具有连续读数能力的千赫兹帧速率的成像能力为时分类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得**的点扩散函数。在理想情况下每单元面积的**计数速率可以与持续增加的波速线亮度相匹配。

2、核心优势：

- 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力

- 千赫帧速率工作周期> 99%

- 3μs时间下的连续采集模式

- 5μm像素尺寸的高空间分辨率

- 优秀的点扩散函数

- 计数器高达每平方毫米每秒5亿张

- 无读出噪声和暗电流

- 极其紧凑的外壳

3、应用领域：

-X射线光子相关光谱(XPCS)

- Ptychography(叠层衍射)成像技术

- 时间分辨实验

- 大分子晶体学(MX)

- 单晶衍射(SCD)

- 粉末衍射(PD)

- 表面衍射

- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)

- X射线成像

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4、技术参数：

EIGER X	500K	1M	4M	9M	16M
探测器模块数量	1	1 x 2	2 x 4	3 x 6	4 x 8
有效面积：宽x高 [mm²]	77.2 x 38.6	77.2 X 79.9	155.2 x 162.5	233.2 x 245.2	311.2 x 327.8
像素大小 [μm²]	75 x 75
总像素数量	1030x514= 529，420	1030x1065= 1，096，950	2070 x 2167= 4，485，690	3110 x 3269= 10，166，590	4150X4371= 18，139，650
间隙宽度，水平/垂直（像素）	-/-	-/37	10 / 37	10 / 37	10 / 37
非灵敏区 [ % ]	0	3.5	5.6	6.3	6.6
缺陷像素	<0.03%
*帧频 [Hz]	3000，4500，9000	3000	750	238	133
计数器深度 [ bit ]	12， 8， 4	12	12	12	12
读出时间	连续读数，3μs死区时间，工作循环>99%***
点扩散函数	1 pixel
探测器厚度 [μm]	450
阈值能量 [keV]	2.7-18
**计数率 [phts/s/mm²]	5?10⁸
动态范围 [bit]	16 或32
数据格式	HDF5 / NeXus
尺寸（WHD）[mm³]	114 x 92 x 242	114 x 133 x 240	235 x 237 x 372	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500
重量 [kg]	3.3	3.9	15	41	55
功耗 [w]	70	75	300	750	1200

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