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产品简介
EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪
配备高分辨率、高灵敏度SDD检测器,轻松应对复杂基体下的有害元素筛选分析,效率更高。具有X射线管自动老化功能。装置如长期不运行,该装置可自动运行该功能。
范围
· 测定对象:固体、液体、粉末
· 测定范围:13AI-92U
· 一次滤光片:5种+OPEN自动交换
· 软件:筛选分析、镀层测厚分析、成分定量分析、解析软件定性分析,具有
自动校正功能(能量校正、半峰宽校正)
· 样品室尺寸:较大W370mm x D320mm x H155mm
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