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XD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品设计精密,硬件、软件功能齐全,灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究,其技术水平已达到国内**水平。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构,可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 |
中文视窗操作界面,全新改版的PDP衍射数据处理软件包。在数据输出多样性方面作了重大改进。 |
配置名称 | XD2/3 | |
X射线管 (Cu靶国产) | 种类 | Cu靶,NF型(其它靶材可选) |
功率 | 2.0kW | |
焦点 | 1.0×10mm2 | |
X射线发生器 | **输出 | 4KW |
X光管电压 | 15~60kV,1kV /Step | |
X光管电流 | 6~80mA,1mA /Step | |
管电压、管电流稳定度 | ≤0.01%(电源低压浮动10%) | |
测角仪 | 测角仪结构 | θs-2θd(XD2) θs-θd(XD3) |
测角仪扫描半径 | 180mm | |
扫描角度范围 | -30~80°(θs) -30~160°(θd) | |
工作方式 | 连续扫描、定时步进扫描、定数步进扫描 | |
连续扫描速度 | 0.125~120°/min | |
**转速 | 120°/min | |
2θ角重复精度 | ≤0.0006° | |
*小步进角度 | 0.0005° | |
测量准确度 | ≤0.001° | |
发散狭缝(DS) | 1/6°、1/2°、1°、2° | |
防散射狭缝(SS) | 1/2°、1°、2° | |
接收狭缝(RS) | 0.1,0.15,0.3,0.45,0.6,1,2mm | |
调整专用狭缝 | 0.02mm | |
检测器 计数器 | 晶体类型 | NaI |
脉冲幅度分析器(HV/PHA) | 输出高压0~1000V,稳定性≤0.01%(8h) | |
机柜 | 机柜尺寸(mm) | 1200(长)×400(宽)×1850(高) |
整机重量(kg) | 500 | |
观察窗(mm) | 600(高)×400(宽)×10(厚)铅玻璃 | |
X射线泄露量 | ≤0.1μSv/h(未扣除天然本底) | |
安全措施 | 门联锁保护(门到指定位置,光闸才打开,产生X射线) | |
滤波器 | Ni滤片 | 对应Cu靶 |
石墨弯晶单色器 | 反射效率η≥28% | |
综合指标 | 整机综合稳定度 | ≤0.3% |
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