用途：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。

型号：HZQ-3（4）

特点：

1.微电脑温度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED数字显示.

2.白金温度感知器（PT-100）与精确的温度可控制解析能力0.1C.

3.蒸汽试验目标温度设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制.

4.全自动安全保护装置、双重高温保护/蒸汽用水断水空焚保护装置..

主要技术参数：

测试槽尺寸：92*285*40（W*D*H）mm 3/4SET

加热时间：RT～98℃About50min

温度稳定度：±0.3℃

内箱材质：304﹟不锈钢

外箱材质：烤漆涂装

符合标准：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…

可按照公司提供的要求定做.