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产品名称:CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪
产品说明、技术参数及配置
CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪,是先达公司2003年推出的达到世界**、国内**水平的全元素分析仪器,当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为“国家重点新产品”,同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发,采用了国外***的半导体电制冷探测器进行探测,数字化谱分析技术,2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析,一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。
适用范围
钢铁行业:生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析;
耐火材料:各类样品成份分析;
有色行业:铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析;
质检部门:工业产品、金、银等各种成份分析。
型号:CIT-3000SM
性能特点
采用数字化谱分析技术,计数率高,无漏计,稳定性好;
采用X光管激发样品,一次激发全部待测元素,韧致辐射型,功耗低、寿命长,对轻重元素均有较高的激发效率;
采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器,分辨率高,无需液氮制冷,使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测;
高压电源:电压 0V-50kV连续可调;电流0-lmA连续可调,数码显示,精度高,无故障操作;
样品种类:固体、粉末、液体均可,压片无需添加任何试剂;
腔内环境:空气或真空;
真空环境测量,提高了轻元素的激发效率和测量范围;
2048道多道谱仪实时测量显示,对样品X光谱进行精细分析,系统可自动识别谱线,方便了解样品的组成;
可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析;
自动稳谱,消除谱峰漂移影响,确保仪器长期稳定;
专业的分析软件,可以实现模式识别,自动分类,开放式软件系统,用户可以根据自身需要建立库文件;
全中文Windows应用软件,操作简单。
技术指标
分析元素:Mg-U,主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等
分析范围:1ppm-99.99%
同时分析:20多种元素同时分析
能量范围:1-30keV
测量时间:1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析
探测器的分辨率:150ev
管电压:0-50Kv 管电流: 1~1000 μA
仪器的分析精度:标准偏差≤0.08%
分析误差:优于国家标准要求
辐射剂量:<25μsv/h.
工作环境:温度10~35 ℃ 湿度30~70%RH
電源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz
仪器配置
仪器主机一台
控制面板
进口电制冷半导体探测器
X光管(1KV-40KV)
高压电源
计算机一台
激光打印机一台
真空泵一台
压片机一台
制样模具一套
稳压电源一台
测试软件一套
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