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产品简介
仪器简介:
太赫兹时域光谱分析(THz—TDS)
典型的THz时域光谱学系统如图1。用亚皮秒的太赫兹脉冲透过样品,再经一段对称的自由空间后由探测器接收,测量由此产生的电磁场强度随时间的变化(利用傅立叶变换获得频域上幅度和相位的变化量),进而得到样品的信息。这样的测量方法已经成功地用于气体和有机材料的测量。
技术参数:
技术指标
光谱范围:0.1-4.0THz
分辨率: <50GHz(傅立叶变换后)
动态范围:>70dB(峰值处)
工作模式:透射或反射
测试距离:1-40cm
Thz发射端:光电导天线
Thz接受端:ZnTe晶体
软件界面:Labview
通讯接口:USB2.0 & 蓝牙
尺寸: 10.5”×6.25”×2.75”
重量: <4.2ibs
主要特点:
特点
紧凑的Thz发射及接收设计; 实时的光谱显示,探测范围4THz
快速扫描,达20Hz ;透射和发射工作模式
I/O端口,可外部控制; 抗振动结构设计
集成化设计,使用简便 ;USB2.0及蓝牙连接 ;可通过网络远程通讯
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