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| 产品简介 ： | 表面缺陷检测的内容: 缺角、破裂、划痕、裂痕、肉眼可识别 边缘崩裂、污渍异物、肉眼可以识别的 划痕；晶片的两个主面上的缺陷均能 检查分辨 |
量测功能：芯片的长宽及四角的垂直度检测，量测的公差:精度±2um。
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