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产品简介
• 新型的TXS光谱仪可在HHG光束(高频光束)、X射线自由电子激光器和台式X射线激光器上进行准确的光子诊断。(HHG beamlines, X-ray freeelectron lasers, and table-top X-ray lasers)
• 对 X 射线光谱进行指纹识别以进行在线光束表征,透射光束保持不受干扰,透射率大于 90%,以便进一步用于实验。(In von Hamos geometry with high-efficiency backscattering)。
• 单次可测量2 keV 和 4 keV 之间的光子能量。
• 通过简单地将反向散射探针与材料样品交换,hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱测量(XES)。
• 软X射线范围提供了对许多材料的化学状态的高灵敏度通道,例如,在2kV下对硫的研究为电池研究提供了重要的参考。
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