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半自动分析探针台 | |||||
型号 | SHCV-6 | SHCV-8 | SHCV-12 | ||
外形 | 860mm*850mm*700mm | 880mm*860mm*750mm | 1300mm*920mm*920mm | ||
重量 | 约180KG | 约250KG | 约380KG | ||
电力需求 | AC220V,50~60HZ | ||||
Chuck | 尺寸 | 6英寸 | 8英寸 | 12英寸 | |
X-Y轴行程 | 6*6英寸 | 8*8英寸 | 12*12英寸 | ||
X-Y轴移动解析度 | 0.1um | ||||
X-Y轴重复定位精度 | ±1um | ||||
移动速度 | ≥ 50 mm/sec | ||||
Z轴行程 | 10mm | ||||
Z轴移动解析度 | 0.1um | ||||
Z轴重复定位精度 | ±1um | ||||
Theta角度行程 | ±10° | Theta角度解析度 | 0.0001° | ||
样品固定方式 | 多孔真空吸附,独立分区控制 | ||||
切换样品功能 | 样品台快速拉出 | ||||
结构 | 同轴高压设计,镀金,电学独立悬空,可作为背电极使用 | ||||
针座平台 | 规格 | O型平台,*多可放置8个针座 | O型平台,*多可放置10个针座 | O型平台,*多可放置12个针座 | |
行程&调节方式 | 平台可以快速升降,行程6mm并带自动锁定功能 | ||||
温控特性 | 温度范围 | ﹣100~200℃ | ﹣80~200℃ | ﹣60~200℃ | |
温控精度 | 温度分辨率 : 0.01°C | ||||
加热电源 | LVDC 低压直流 | ||||
*低控温速率 | ±0.1°C /小时 | ||||
传感器 | Pt100 | ||||
制冷方式 | 液氮制冷或者压缩机制冷 | ||||
软件功能 | wafer map的编辑 | 光学特性 | 显微镜行程 | 2*2inch | |
仪器的接入 | 显微镜行程 | 1um | |||
数据的采集和图像化显示 | 放大倍数 | 20-4000X | |||
数据的分析 | CCD像素 | 50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字) | |||
差异数据的标定Ink mark | 点针规格 | 点针精度 | 10微米/2微米/0.7微米 | ||
自定义Bin分 | X-Y-Z行程 | 12mm-12mm-12mm | |||
自动测试 | 漏电精度 | 10pA/100fA | |||
通讯接口:RS232/484TCP/IP/,GPIB等 | 接口形式 | 香蕉头/鳄鱼夹/同轴/叁轴/SMA,SHV接口 | |||
大功率规格 | 配置 | 大功率kelvin样品台 | 减震 | 主动式减震系统,能够实现50X 物镜下画面不抖动 | |
大功率夹具线缆 | 可选附件 | 射频测试 | chuck快速拉出装置 | ||
mult-pin 分流探针 | 卡盘镀金 | PCB板夹具 | |||
大功率保护模块(针座用) | 激光修复 | 液晶热点侦测套装 | |||
保护红外光幕,防止人员误进入工作区,触发时interlock互锁 | 探针卡夹具 | 光强/波长测试接口部件 | |||
大功率仪器连接模块 | 屏蔽箱 | 高低温样品台(-80~200℃) | |||
**测试电压 | 10KV | 加热台 | 显微镜倾仰装置 | ||
**测试电流 | 500A(脉冲) | 应用方向 | 晶圆测试,功率器件半自动测试 | ||
特点: | |||||
Si/SiC/GaN等晶圆测试 | 超高的测试精度和测试效率 | ||||
大功率晶圆测试 | 便捷的仪器接入 | ||||
(-80~200℃)高低温Chuck | 半自动测试 | ||||
20~4000X光学显微放大 | 可升级全自动测试 | ||||
功能丰富的测试软件 | 可升级射频测试 |
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