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场发射透射电子显微镜
场发射透射电子显微镜

参考价格

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型号

TECNAI G2 F30

品牌

FEI

产地

日本

样本

暂无
北京依维特技术服务有限公司

会员

|

第3年

|

生产商

工商已核实

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核心参数
  • 误差率:

    0.5
  • 分辨率:

    0.1nm
  • 重现性:

    0.5
  • 仪器原理:

    其他
  • 分散方式:

    0.5
  • 测量时间:

    0.5
  • 测量范围:

    0.5
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TECNAI G2 F30 是一台多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等)进行方便灵活地有机组合,形成了强大的分析功能,从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外,TECNAI G2 F30提供了300KV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。同时,该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。 TECNAI G2 F30的主要功能是TEM形貌观察及HRTEM,SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、MAPPING。广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域.

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产品质量

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售后服务

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