分散方式：
0.5测量时间：
0.5测量范围：
0.5误差率：
0.5分辨率：
0.1nm重现性：
0.5仪器原理：
其他看了FIB聚焦离子束系统的用户又看了
留言询价
虚拟号将在 180 秒后失效
使用微信扫码拨号
蔡司双束电镜CROSSBEAM系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。1，生命科学，如断层扫描，三维重构
2，电池领域，如原子层组分表征
3，半导体领域，如失效分析，电路修复
4，金属领域，如界面分析，亚表面分析
5，材料科学，如晶体微观结构分析，纳米图形化加工
6，透射电镜、EBSD、微观力学等多种样品的原位制备
7，微纳加工。
暂无数据！
FIB聚焦离子束系统的工作原理介绍？FIB聚焦离子束系统的使用方法？FIB聚焦离子束系统多少钱一台？FIB聚焦离子束系统使用的注意事项FIB聚焦离子束系统的说明书有吗？FIB聚焦离子束系统的操作规程有吗？FIB聚焦离子束系统的报价含票含运费吗？FIB聚焦离子束系统有现货吗？FIB聚焦离子束系统包安装吗？
手机版：
工商已核实
