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美国Hinds应力双折射测量系统
美国Hinds应力双折射测量系统

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弘度科学仪器(上海)有限公司

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美国Hinds成立于1971年,凭借其**的PEM(光弹变调制)技术研发了高稳定的应力双折射测量系统,具有目前世界上**的精度,可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).

?光学器件

?液晶玻璃基板, 液晶滤光片

?激光晶体

?DVDs

?光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等

?相机镜头

?太阳能硅片,半导体晶圆

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售后服务

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