仪器简介：

ESPI（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）电子散斑干涉技术是以激光散斑作为被测物场变化信息的载体，利用被测物体在受到激光照射后产生干涉散斑场的相关条纹来检测双光束波前后之间的相位变化。

电子散斑干涉技术（ESPI）是一种非接触式全场实时测量技术，可完成位移、应变、表面缺陷和裂纹等多种测试，其具有通用性强、测量精度高、测量简便等优点。

Dantec Q-300 ESPI是丹迪公司研发生产的一款用于试件高灵敏度的三维位移、变形和应变分析的光学仪器。

技术参数：

测量维度：一维、二维、三维

测量区域：**可达200mm×300mm

测量精度：位移（0.03—0.1μm可调），应变（0.005%—100%）

主要特点：

高速、精度高、无接触、方便使用