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精微高博推出中国首台多站高性能比表面仪

精微高博推出中国首台多站高性能比表面仪
精微高博  2013-01-08  |  阅读:1762

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近日,北京精微高博科学技术有限公司成功研发出中国首台多站高性能比表面及微孔物理吸附分析仪。“该仪器是基于诸多技术突破而研发的划时代新品,其测试功能、测试精度和测试效率均有大幅度的提高。

 

JW-BF270比表面及微孔物理吸附分析仪

JW-BF系列仪器具有多个独立工作站,测试时多站可以同时独立进行工作;有多套杜瓦瓶和加热系统,使用灵活方便;此外,该仪器有独立的多个预处理位,真空系统与测试系统分开,可以进行独立的预处理,程序升温,并设有冷阱,以消除有害气体;每个工作站均有独立的Po管,实时检测Po

“从测试范围来看,该仪器可以进行BET比表面(单点、多点)、Langmuir比表面、外表面测定,BJH(吸附、脱附)介孔与大孔孔径分析,t-plot微孔总孔体积分析,DR法微孔总孔体积分析,HKFS法微孔分析,CO2微孔分析(DFT),吸附热测定,真密度测定等。”

该仪器的关键技术及创新点,具体如下:

1)核心结构:精微高博采用独特的一体化设计,真空密封达到最优条件,独创的温度修正技术,并实时监测与修正,对提高仪器测试精度起到了至关重要的作用。

2)真空系统:采用进口双级旋片式机械泵,具有防反油装置,综合性能世界一流;采用独特的二级真空分子泵,满足超微孔的测试;独创的真空通路,通过多项专利技术,使抽气速度实现不同流速的自动调节;创造了防抽飞专用技术,以及专用抽真空系列程序,解决了超细粉测试的技术难关。

3)控制技术:采用独创的多种压力自动控制技术、吸附高点自控技术,保证了孔径分析的最高范围;独创的低压力精密控制技术,保证了微孔测试的精确性;测试压力点间隔<0.1KPa,相当于吸附曲线测试点可超过1000点,达到国际先进水平;独特的压力点设置,根据分析需要达到最佳组合,测试精度和测试效率大为提高;压力平衡时间自动判断和控制,可根据需要对判据条件进行优化调节。

4)测试技术:压力传感器精度为±0.15%(读值),比满量程标定精度在低压区又提高了25倍;采用多量程压力传感器分级测试,同时创造了不同传感器的压力无缝光滑连接的专有技术;对仪器的死体积进行了优化设计,并加入了温度修正及其他一系列修正技术,保证了测试数据的科学性与准确性;成功研发了密度输入法,提高测试效率。

5Po的测试与修正:可直接快速测量Po;高精度微孔分析仪,设有单独Po管,孔径测试过程中,同步测定Po值,还可实时参与计算。

6)预处理系统:主机中单独设置多个预处理位,单独的真空通路与测试系统分开,预处理可独立进行;设有冷阱,样品管原位处理;微型加热炉的设计先进,炉膛小,能耗低,最高温度可到 450℃,安全可靠,温度、升温速度、保温时间均可自动控制,每个样品可单独控制;具有节能环保、安全精密、灵活方便的特点。

7)微孔测试:实现超低压力下的精确控制和数据处理,精确测出的微孔超低压区等温吸附曲线,提供了可靠的分析依据;创造了微孔-介孔一体化测试方法与程序,全程可在十几小时内完成;微孔最可几孔径重复偏差小于0.01nm, 可以代替国外高端产品;实现了一些特殊条件的微孔测试,如CO2的微孔测试,同时可完成吸附热的试验与计算;同机实现真密度的精密测定。

8)软件:主界面是国内外唯一的实时显示测试系统压力随时间变化的曲线,直观地显示出每一个压力点样品的吸附或脱附过程,具有重要的价值;测试界面上特有的压力、温度、Po、时间的实时显示;最优化的抽真空程序,抽气速度从2ml/s300ml/s自动调节;无液氮飞溅的升降程序;氦、氮自动转换,残存气体的自动排除程序;实验数据按编号和时间自动存储;吸附饱和自动判断;冷自由空间参数自动测试程序;死体积的精确测定法;测试压力最佳优化分段设置;测试压力点的PdPcd两种智能化控制方法;测试最高压力点的智能控制法;Po实时监测和参与计算专用程序;介孔-微孔一体化测试程序;最先进的BET比表面线性范围的灵活选择;液氮面变化的程序修正;系统温度的实时监测与修正;微孔压力的自动修正;不同量程压力传感器的分段检测和无缝连接;标准等温线数据库,为t图法和MP法提供最佳条件;炭黑的总表面与外表面专用测试程序;CO2吸附量与吸附热的专用程序;真密度精密测试专用程序;

附录:

一、仪器主要技术参数:

机械泵极限真空度  4×10-2Pa

分子泵极限真空度  4×10-6

测试系统实际真空度0.004Pa

氮气相对压力  4×10-8-0.997

压力测试精度  0.15%(读值)

测试气体  氮气、氩气、氪气、二氧化碳等

测试范围  比表面≥0.001M2/g,无规定上限;介孔与大孔 2-500nm,微孔0.35-2nm

重复精度  ±1%;微孔最可几孔径重复偏差≤0.01nm

测试时间  比表面   平均每样15min

介孔分析  平均每样(吸脱附-50点)5-6h;微孔/介孔一次完成(100点)约15h

二、关于精微高博科技

精微高博(JWGB)是中国比表面及孔径分析仪技术的领导者,拥有10余项比表面仪国家专利技术。精微高博公司总部在北京,在上海、广州均有分公司,并设有客户体验中心。公司为切实贯彻落实 “为顾客提供优质产品和满意服务”的宗旨,精微用户委员会暨“用户论坛”成立了,更便于为广大客户提供卓越服务。2012年度,精微高博的市场销量和市场综合占有率再次遥遥领先。

有关精微高博科技的更多信息,欢迎访问:www.jwgb.net

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