高分辨率三维计算机断层扫描& 紧凑型数字化X 光透视系统

特点：

· 高分辨率三维计算机断层扫描

· 实时高分辨率数字化X光透视

· 纳米级分辨率配置可选

· 5-250um分辨率

· 大样品尺寸（直径 x 高度 ：320 mm x 420 mm）

· 可编程自动控制重复扫描

· 样品位置记忆

· 广泛的应用领域及产品分析

· 铅及钢铁结构，X射线内锁定系统

学术研究· 材料科学 · 地质，石油&燃气 · 矿物&地矿 · 自然&生命科学

主要行业

· 汽车 · 电子 · 铸造 · 航空航天 · 塑料注塑 · 积层制造 · 医疗&齿科 · 珠宝

主要应用

· 度量 · 尺寸控制 · 逆向工程 · 零件检验 · 组装分析 · 失效分析 · 材料内部分析 · 壁厚分析