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原始粉体对Mg-PSZ陶瓷电化学性能的影响

编号:CYYJ043584

篇名:原始粉体对Mg-PSZ陶瓷电化学性能的影响

作者:洪浩 刘涛 于景坤

关键词: 氧化锆陶瓷 致密度 离子电导率

机构: 东北大学冶金学院

摘要: 分别利用固相烧结法和共沉淀法制备了摩尔分数为8%的MgO稳定ZrO2粉体,并在1 600℃下烧结2 h,获得了摩尔分数为8%的MgO部分稳定氧化锆陶瓷(8Mg-PSZ),考察了原始粉体对陶瓷体相含量、致密度、微观结构和离子电导率的影响.结果表明:原始粉体形貌对Mg-PSZ陶瓷性能的影响很大,原始粉体粒径越小、团聚程度越低,所获得的Mg-PSZ陶瓷四方相和立方相氧化锆含量(体积分数)、致密度越大,离子电导率越高;以NaOH溶液为沉淀剂、以共沉淀法合成的粉体为原料烧结得到的Mg-PSZ陶瓷具有最佳性能,体积密度为5.68 g/cm3,在650~950℃的测试范围内激活能为1.24 eV,950℃下离子电导率可达4.79 mS/cm.

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