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¨ 校准工具。为更客观成现真实表面特征进行精准的校正。

¨ 自动分析技术，以确保高精度，高质量和成本有效性。

¨ 可视化工具和报告输出工具，使得令人信服及印象深刻的结果沟通成为可能。

我们是一个高度创新的公司，不断发展新的解决方案，以满足客户的需求。

多年来，扫描探针图像处理软件SPIP™，已经成为实际意义上的纳米级图像处理的标准。

在超过42个国家的前沿的研究机构和高科技公司将SPIP™图像处理软件应用于半导体检测中，物理，材料科学，化学，生物学，计量学技术，纳米技术等很多领域。

SPIP™图形分析软件支持包括扫描探针显微（SPM），干涉显微镜，扫描电子显微镜（SEM），共聚焦显微镜，光学显微镜，和三维轮廓仪等各种类型的显微镜及他们所生成的数据文件。更与aep Technolongy等从事表面研究仪器开发的知名公司合作，**结合NanoMap三维轮廓仪，白光干涉仪，激光共聚焦显微镜，原子力显微镜（AFM）等多种微观表面研究仪器。

无论你是资深的用户或者是刚刚入门的图像处理的初学者。使用SPIP™图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可得到您需要的分析结果。

SPIP™图像处理软件是一个模块化的软件，提供包括一个基础软件分析模块和13个可选的附加模块。基础模块包含必要的基本特征分析，例如文件读取、数据分析、平面校正等功能。附加模块则是为针对某些特定功能测试提供，包括归一化校准、降低噪声、分析、3D构建。在随后的彩页中你会发现各项功能的详细介绍。从中您可以学到如何提高您工作的效率和质量。

¨ 扫描探针显微镜（SPM）

¨ 扫描电子显微镜（SEM）

¨ 透射电子显微镜（TEM）

¨ 干涉仪

¨ 共焦显微镜

¨ 三维轮廓仪