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产品详情
自动缺陷检查和表面粗糙度测量的AFM
自动缺陷检查和表面粗糙度测量的AFM的图片
参考报价:
面议
品牌:
Park
关注度:
2485
样本:
暂无
型号:
Simply the best AFM for automatic defect review and surface
产地:
韩国
信息完整度:
典型用户:
暂无
误差率:
*
分辨率:
*
重现性:
*
仪器原理:
其他
分散方式:
*
测量时间:
*
测量范围:
*
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认证信息
高级会员 第 3
名 称:韩国帕克股份有限公司
认 证:工商信息已核实
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产品简介

Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement

对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析,从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接,这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。此外,Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内*低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术,Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量*精确的原子力显微镜。

Higher Throughput, Automatic Defect Review


对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析, 从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接,这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。


 


Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement


业内对于超平媒介和基体的要求越来越高,所以需要满足设备体积不断减小的需求。此外,Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内*低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术,Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量*精确的原子力显微镜。


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