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美国Hysitron PI-85型纳米压痕仪(SEM)
美国Hysitron PI-85型纳米压痕仪(SEM)的图片
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美国
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主要特点:

  PI-85 SEM PicoIndenter®是可以集成在扫描电子显微镜(SEM)里的一个深度控制纳米力学检测仪系统。通过这个系统能够同时进行量化纳米力学性能检测和SEM形貌观察。 耦合这两种技术能让研究人员非常精确地定位探头并且使用SEM图像记录测试中材料的整个变形过程。

  行业应用:材料、生物、化学、物理相关的政府检测机构、科研院所、高校和大型企业研究机构。

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