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一、产品介绍:
GYB-300型引伸计检定仪是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762—2007引伸计检定规程要求,专门用于对各类引伸计的标定,可进行0.5级引伸计的标定,也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的标定。
二、产品特点:
1、GYB-300引伸计检定仪由精密微分测头及测量支架组成。该标定器是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合,同时配有加长立柱附件,配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样,可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要,配置专用配件进行精密微变形量计量。
2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外简及高精密螺纹付组成。其**量程25mm;*小分度(游标分度)0.0002mm;旋转外筒分度0.002mm。
位移变化读数为:
L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0)
其中:a-内筒毫米刻线读数
b-外筒刻线读数
c-游标刻线读数
a0 b0 c0 为相应位移变化前读数
三、技术指标:
1、测量引伸计标距范围L max 500mm (≥250mm需另配加长杆费用另付)
2、测量支座上支臂安装孔径 φ10;φ28
3、微分测头读数内筒轴向刻度 0.5mm/格
4、微分测头读数内筒游标刻度 0.0002mm/格
5、微分测头读数外筒园周刻度 0.002mm/格
6、高精密微分测头精度指标: 量程0.5mm以内≤0.5μm (**误差)量程0.5mm以上≤0.10% (逐点相对误差)
四、参考标准:
JJF1096-2002 引伸计标定器校准规范
ISO9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定
JJG762-1992 引伸计检定规程
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