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透射电子显微镜原位-原子尺度双倾力电耦合系统
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产品简介

INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台,三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M(力学加载)、INSTEMS-E(电学加载)和INSTEMS-T(热场加载);三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME(力电耦合)、INSTEMS-TE(热电耦合)和INSTEMS-MT(力热耦合);一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET(力热电耦合)。

产品介绍:

INSTEMS-ME可以实现多种模式的电学施加和高精度的电学测量。同时,可以根据不同的倾转需求选择不同驱动方式。该产品可实现拉伸、压缩、弯曲等多种力学加载模式。借助于**的力电耦合模式,INSTEMS-ME**保存了TEM样品杆的双轴倾转功能,成为市场上**可实现原子尺度力电耦合研究的实验平台。

突出优势:

1、力场施加条件下高温加热能力

超宽加热范围( RT-1200 oC )

超高加热精度( < 0.1 oC )

可程序化加热

四探针测量

2、优异的电学施加和测量能力

多种通电程序

pA级电学测量

3、双轴倾转

α 轴倾转**至±25°

β 轴倾转**至±25°

4、稳定的原子尺度成像

极限样品漂移<50 pm/s

空间分辨率≤0.1 nm

技术指标:

**驱动力

100 mN

**驱动位移

4 μm

驱动精度

< 500 pm

**电压

± 50 V

电流测量范围

1 pA-1 A

空间分辨率

≤0.1 nm

EDS兼容性

应用领域:

压电材料

铁电材料

驱动/传感

光电伏材料

锂离子电池

纳米器件

柔性电子器件

……

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