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原子力显微镜通用型AFM5100N
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特色

1. 简便的悬臂安装

通常的悬臂是非常渺小而且很难操作,内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多,容易拿取,安装非常简单方便。

2. 不用调整激光光斑的自检测方式激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置,操作复杂,而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。

3. 精确的悬臂定位

悬臂的机械结构,能够以俯视方式直接观察悬臂的位置,从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外,更加尖锐的探针提高了分辨率。

5. 紧凑的主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件,安装紧凑,体积小巧。

6. 优越的扩展功能通过激光检测方式,能够扩展各种各样的选配功能。另外,只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。

规格
检测方式
激光检测方式/自检测方式
样品尺寸
**35 mmφ、厚度10 mm(专用配件厚度扩展至20 mm)
扫描范围
  • 20 μm/1.5 μmH(水平/垂直)
  • 100 μm/15 μmH
  • 150 μm/5 μmH
  • 110 μm/6 μmH(闭环差控制)
定位显微镜
  • 搭载CCD的
  • 变焦显微镜
  • 光学显微镜
  • 金相显微镜 (可以选配)
减震方式
  • 台式减震台
  • 落地式减震台(可以选配)
操作画面
搭载流程图的操作导航系统
检测功能
  • DFM(dynamic force mode)
  • CURRENT、SSRM、SNDM、PRM、KFM
  • PM(相位模式) (可以选配)
扩展功能
AFM、STM、SIS、FFM、LM-FFM、VE-AFM/DFM、Adhision、CURRENT、KFM、PRM、SNDM、SSRM、EFM、MFM

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