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J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，系统通过非热过程，施加超高激光辐射剥蚀样品，产生的颗粒能在ICP源完全消解，确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号，J200LA-fs剥蚀均匀一致，剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。
设备特点：
1、测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况；
2、同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态；
3、两个相机提供广角和放大的样品图像和广角图像呈现；
4、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态；
5、系统能完成具有挑战性的化学分析工作；
6、确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号；
7、剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质。
J200飞秒激光剥蚀进样系统技术指标：
| 激光器 | 工业级高频Ytterbium diode飞秒激光器，343 nm和1030 nm，频率可调10KHz |
| 能量控制 | 连续可调光学衰减器，集成激光能量监测单元 |
| 激光光闸 | 自动光闸保证激光能量稳定 |
| 激光脉冲能量(激光头输出) | 150μJ/脉冲 @ 343 nm* ， 1mJ/脉冲 @ 1030 nm |
| 激光光斑大小控制 | 3-70微米，结合了自动光束扩展器和狭缝成像 光斑大小范围取决于不同设备的型号，可用户自定义光斑大小范围 |
| 自动X-Y轴 | 100 mm X 100 mm 行程范围，分辨率0.2微米 |
| 自动Z轴 | 35mm行程范围，Z轴可以实现样品自动高度调整，分辨率0.5微米 |
| 剥蚀点定位 | 红色激光具有更好的信号精度，ASI的自动对焦技术 |
| 样品图像 | 高分辨率的双CMOS镜头，用于高倍放大和大视野预览，支持光学变焦 |
| 样品成像光源 | 泛光LED灯，同轴反射光和透明光源，正交十字光 |
| 气体控制 | 双路数字流量控制器，可选第三个流量控制器（用于氮气或其他气体） 电控两向和三向阀，ASI**气体控制单元 |
| 样品室 | Flex™ 样品室具有系列可更换的垫片，适合不同大小的样品 Vertex™样品室具有快速冲洗效率和大量样品的运送能力 可用户自定义样品固定装置，ASI**LIBS测量兼容性 |
| 与ICP-MS通讯 | 在J200和ICP-MS之间实现双向控制 |
| LIBS检测器 (仅适用于Tandem系统) | Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器 |
| 仪器软件 | Axiom LA系统操作软件，ASI**的TruLIBS™发射光谱数据库（用于Tandem系统） Clarity Femto数据处理软件（处理LA-ICP-MS和LIBS的数据，进行定量计算/物质分类） |
| 激光安全等级 | 一级激光产品，样品加载区域有光学安全隔离板，激光自锁保护装置 |
| 系统尺寸 | 70” (长) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (仅LA主机) 75” (长) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS检测器) |
| 重量 | 600 lbs [272Kg](仅LA主机)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器) |
| 供电要求 | 110-240 VAC，50/60 Hz， 5A， 保险10A |
| 质保 | 所有硬件和软件质保一年，飞秒激光器质保两年 |
| 认证 | CE认证 |
| 可选项 | LA升级为Tandem系统 |
| 延保 | 可签署多年质保和服务协议 |
J200飞秒激光剥蚀进样系统产生的样品颗粒均匀一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，运输效率高，该设备功能直观、带图形界面，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式，用户简单、方便地操作硬件部件，只需简单点击tab键，用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态，不同用户组可赋予不同的使用权限，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。
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