叶片光谱探测仪CI-710

CI-700系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱；通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化；直观的光谱图像和现场数据存储，为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段。

仪器特性

◆非常便携，适合于室内或野外使用

◆非破坏性精密地测量叶片在400~1000nm波长范围内的反射率、透射率和吸收率

◆扫描速度快，灵敏度高

◆USB接口连接UMPC数据处理终端

◆样品类型，叶片或扁平的物体

技术参数

◆测量方式：非破坏性测量叶片

◆测量光谱：叶片透射、吸收和反射光谱

◆样品类型：叶片或扁平的物体

◆检测器：CCD线性阵列探测器

◆扫描波长范围：400～1000 nm

◆采样速度：3.8ms-10s

◆光偏离：＜0.05%在600nm;0.10%在435nm

◆分辨率：0.3～10.0nmFWHM

◆采样直径：7.6 mm

◆线性修正：>99.8%

◆*配有CI-700LP叶夹

◆尺寸：89.1 x 63.3 x 34.4 cm

◆*重量：290G

仪器配置

光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箱