PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际**的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。

产品特性

采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率

测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面

不受环境光的影响

测量简单，样品无需特殊处理

Z方向，测量范围大：为27mm

主要技术参数

扫描范围：50×50（mm）

扫描步长：0.1μm

扫描速度：20mm/s

Z方向测量范围：27mm

Z方向测量分辨率：2nm

产品应用

MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。