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----源自荷兰飞利浦
Phenom Pro 放大倍数100,000倍,分辨率优于17nm,30秒快速得到表面细节丰富的优质显微像。是一款功能齐全的高分辨率台式扫描电镜,可用于测量亚微米或纳米尺寸的样品。Phenom Pro可选配丰富的拓展功能选件Phenom Pro Suite,如三维粗糙度重建、纤维直径和孔洞面积(孔隙率)统计分布、高倍拼图、远程控制操作等。
PhenomPro台式扫描电镜 专业版 —— 智能、高效、多功能 ? 放大倍数:20×-100,000× ? 分辨率:优于17nm ? 电子枪:1500小时CeB6灯丝 ? 抽真空时间:10秒 ? 样品移动方式:自动马达样品台 ? 样品定位方式:光学和低倍电子双重导航 ? 样品导电性要求:无需喷金,直接观测绝缘体 ? 拓展功能:3D粗糙度重建、纤维统计测量,高倍拼图等 ? 环境扫描选件(ESEM):温控样品台,可直接观测液体 Phenom Pro (台式扫描电镜 专业版) 采用寿命高达1500小时的新一代CeB6灯丝和分辨率更高,功能更全的光学显微镜,提高后的光学显微镜有聚焦功能,放大倍数在20-120倍之间,具备明场和暗场两种模式。 |
表面细节丰富的高分辨率照片 | ||
Phenom Pro 为您提供高信噪比、表面细节丰富的优质图像: | ||
? 20×-100,000×连续放大,分辨率优于17nm,大景深; | ||
? 信号较少的钨灯丝电镜通过提高加速电压来产生更多信号,密度较小的样品会因为电子穿透过深而导致表面细节缺失。信号是钨灯丝10倍以上的CeB6在低 | ||
电子穿透深度浅,避免样品被破坏,展现更多表面细节; | ||
? 探测背散射电子,展现清晰形貌结构的同时,提供丰富的成份信息; | ||
左图:5kV低加速电压下,电子反应区位于样品表面,配合高亮度CeB6灯丝,既保证了分辨率,又得到样品表面的信息; 右图:15kV高加速电压下,电子穿透深度较深,表面细节丢失 | CeB6灯丝在样品表面单位面积内激发的信号约是钨灯丝的10倍,适合于低加速电压观测 |
表面形貌和成分信息同时展现 | |
背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom采用4分割半导体背散射电子探测器,为您提供两种成像模式,模式之间可迅速切换: | |
? 成份模式:同时给出样品表面形貌与成份信息,不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨 | |
? 形貌模式:去除成份信息,样品表面凹凸起伏等微观结构更加明晰,适用于表面粗糙度和缺陷分析 | |
成份模式4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相叠加 | 形貌模式4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相抵消 |
成份模式图像包含样品成份与形貌信息 | 形貌模式图像仅突出样品表面形貌特征 |
**样品杯,30秒快速成像 | |
Phenom**样品杯、低真空设计、**的真空封锁技术,装入样品后30秒内即可得到高质量图像,耗时仅为传统电镜的1/10左右。 |
直接观看绝缘体,无需喷金 |
Phenom采用低真空技术,出射电子与空气分子碰撞产生正离子,正离子与样品表面累积的电子中和,有效抑制荷电效应的产生,直接观测各种不导电样品(如下图所示)。 利用降低荷电效应样品杯,更可将开始荷电的放大倍数提高8倍左右,而且不会影响灯丝寿命,下图头发示例: |
操作简便,全程导航 | ||
? 自动/手动聚焦 | Phenom操作界面。通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。界面右侧显示光学导航和低倍SEM导航窗口,方便用户在不同样品、不同区域间进行切换。 | |
? 自动/手动亮度 | ||
? 自动/手动对比度 | ||
? 自动灯丝居中调节 | ||
? 自动马达样品台 | ||
? 光学/电子样品导航 |
光学导航,所有带观测样品尽在视野之中,高倍下准确切换样品,只需点击感兴趣样品,即可自动移动到屏幕中央 | |
低倍SEM照片导航,导航窗口中的彩色矩形框指示了住观测窗口的观测区域,点击感兴趣的区域,自动移动到样品中央。 |
环境适应性高,完全防震 |
Phenom可以放置在几乎所有的室内环境当中,无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计,震动不会引起三者间的相对运动,使Phenom成像不受震动影响,可放置在较高楼层。 |
互联网远程检测 |
Phenom拥有远程检测功能,通过网络,专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难,为您提供全方位的保护,让您的Phenom随时处于**工作状态。 |
丰富的拓展功能选件 |
适用于不同领域的样品杯选件 |
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